恒温恒湿测试仪厂家谈影响绝缘电阻的因素

一、温度的影响 恒温恒湿测试仪厂家谈运行中的电力设备其温度随周围环境变化，其绝缘电阻也是随温度而变化的。一般情况下，绝缘电阻随温度升高而降低。原因在于温度升高时，绝缘介质内部离子、分子运动加剧，绝缘物内的水分及其中含有的杂质、盐分等物质也呈扩散趋势，使电导增加，绝缘电阻降低。这与导体的电阻随温度的变化是不一样的。不同的电力设备及不同材料制成的电力设备，其绝缘电阻随温度的变化也不一样，现场测童也很难保证在完全近似的温度下进行。实际测量绝缘电阻时，必须记录试验温度，而且尽可能在相近温度下进行测量，以避免温度换算引起的误差。 二、湿度和电力设备表面脏污的影响 恒温恒湿测试仪分析电力设备周围环境湿度的变化及空气污染造成的表面脏污对绝缘电阻影响很大。空气相对湿度增大时，绝缘物表面吸附许多水分，使表面电导率增加，绝缘电阻降低。当绝缘物表面形成连通水膜时，绝缘电阻更低。电力设备的表面脏污也使设备表面电阻大大降低，绝缘电阻显著下降。根据以上两种情况，现场测量绝缘电阻时都必须用屏蔽环消除表面泄漏电流的影响或烘干、清擦干净设备表面，以得到真实的测量值。 三、残余电荷的影响 恒温恒湿测试仪对大容量设备运行中的残余电荷或试验中形成的残余电荷未完全放尽，会造成绝缘电阻偏大或偏小，引起测得的绝缘电阻不真实。残余电荷的极性与恒温恒湿测试仪的极性相同时，测得的绝缘电阻将比真实值增大;残余电荷的极性与恒温恒湿测试仪的极性相反时，测得的绝缘电阻将比真实值减小。原因在于极性相同时，由于同性相斥，恒温恒湿测试仪输出较少电荷;极性相反时，恒温恒湿测试仪要输出更多电荷去中和残余电荷。为消除残余电荷的影响，测量绝缘电阻前必须充分接地放电，重复侧量中也应充分放电，大容量设备应至少放电5min。

恒温恒湿测试仪等恒温恒湿产品自检内容

1、恒温恒湿产品自检分类 目前国内恒温恒湿测试仪等恒温恒湿产品自检内容，按照是否需要引入模拟量和开入量进行自检可以分为两类： (1)需要引入模拟量和开入量进行的自检：如①开入回路自检；②数据采集系统自检；③二次回路异常运行状况的检测。 (2)不需要引入模拟量和开入量进行的自检：如①各种存储器的自检；②程序正确性自检；③开出回路自检；④开关电源电压异常自检。 2、几种自检功能的实现方法 ①开入回路自检 (1)两个以上的开入量相互矛盾。如J、HWJ同时存在或同时不存在J、HWJ同时存在可反映开入回路异常J、HWJ同时不存在可反映控制回路断线。 (2)不应长期存在的开入量长期存在。如：手合、收讯输入、信号复归、单跳、三跳起动重合闸等开入信号长期存在，可反映开入回路异常。 (3)开入量与模拟量矛盾。如J动作同时检测到有负荷电流，可反映开入回路异常。 ②开出回路自检 (1)开出或反馈光隔(三极管)击穿。无开出命令，而反馈端有电位的变化。其检测分为上电自检和运行中自检两个阶段，一般均能实时检测。 (2)开出或反馈光隔(三极管)断线。有开出命令，而反馈端没有电位的变化。其检测分为上电自检和运行中自检两个阶段，一般运行中采用定时检测的方法。 ③数据采集系统异常自检 对A/D型变换器可以通过多路转换器为A/D转换器预留一个检测通道，该通道接有标准电平，定时读取标准电平经A/D转换的数值来检查A/D转换器的正确性和精度。 ④程序正确性自检 目前国内在恒温恒湿产品程序正确性自检方面多采用CRC校验和ROMH校验两种方法： (1)CRC CRC校验码常用的有16位校验码和8位校验码两种。 16位校验码采用标准化组织ISO制定的HDLC标准CRC校验码，它的生成用字节1至字节N＋3构成的信息码多项式F(x)除以生成多项式G(x)所得余数高低位反顺序的结果。 (2)ROMH 采用求和尾码校验法，按照事先规定的地址空间将程序代码累加，溢出不管，zui后的结果是某个和数的尾码。取此尾码与预定的数比较，来判断程序字是否保持正确，根据使用的字节为8位还是16位累加，可以得到一个长度为8位或者16位的校验码。