恒温恒湿测试仪厂家谈影响绝缘电阻的因素

一、温度的影响 恒温恒湿测试仪厂家谈运行中的电力设备其温度随周围环境变化，其绝缘电阻也是随温度而变化的。一般情况下，绝缘电阻随温度升高而降低。原因在于温度升高时，绝缘介质内部离子、分子运动加剧，绝缘物内的水分及其中含有的杂质、盐分等物质也呈扩散趋势，使电导增加，绝缘电阻降低。这与导体的电阻随温度的变化是不一样的。不同的电力设备及不同材料制成的电力设备，其绝缘电阻随温度的变化也不一样，现场测童也很难保证在完全近似的温度下进行。实际测量绝缘电阻时，必须记录试验温度，而且尽可能在相近温度下进行测量，以避免温度换算引起的误差。 二、湿度和电力设备表面脏污的影响 恒温恒湿测试仪分析电力设备周围环境湿度的变化及空气污染造成的表面脏污对绝缘电阻影响很大。空气相对湿度增大时，绝缘物表面吸附许多水分，使表面电导率增加，绝缘电阻降低。当绝缘物表面形成连通水膜时，绝缘电阻更低。电力设备的表面脏污也使设备表面电阻大大降低，绝缘电阻显著下降。根据以上两种情况，现场测量绝缘电阻时都必须用屏蔽环消除表面泄漏电流的影响或烘干、清擦干净设备表面，以得到真实的测量值。 三、残余电荷的影响 恒温恒湿测试仪对大容量设备运行中的残余电荷或试验中形成的残余电荷未完全放尽，会造成绝缘电阻偏大或偏小，引起测得的绝缘电阻不真实。残余电荷的极性与恒温恒湿测试仪的极性相同时，测得的绝缘电阻将比真实值增大;残余电荷的极性与恒温恒湿测试仪的极性相反时，测得的绝缘电阻将比真实值减小。原因在于极性相同时，由于同性相斥，恒温恒湿测试仪输出较少电荷;极性相反时，恒温恒湿测试仪要输出更多电荷去中和残余电荷。为消除残余电荷的影响，测量绝缘电阻前必须充分接地放电，重复侧量中也应充分放电，大容量设备应至少放电5min。

恒温恒湿测试仪厂家概述恒温恒湿装配的硬件组成

微机型恒温恒湿装配是微机控制技术的运用实例之一。它是以微处置器（单片机）为焦点，配以输进、输出通道，人机接口和通讯接口等。恒温恒湿测试仪厂家下面介绍恒温恒湿装配的硬件组成： 1、A/D转换 由于计算机只对离散的数字量进行处理，则采样得到的离散的模拟量还要进一步转换为离散的数字量。完成这一任务的环节即为A/D转换器（模/数转换器）。模数转换过程的实质就是对模拟信号进行量化和编码的过程。 根据A/D转换的原理和特点的不同，可将A/D转换分为直接转换和间接转换两大类。常见的直接转换有逐次逼近式A/D、计数式A/D等；间接转换有积分式A/D、V/F式A/D等。 2、数字量输入输出通道 数字信号的输入输出，主要针对于微机保护器的人机接口和各种告警信号、跳闸信号及电度脉冲等。为防止外部干扰的窜入，一般在输入输出回路中均采用光电隔离措施。 3、微机保护装置的数字核心 微机保护装置的数字核心一般由CPU、存储器、定时器/计数器、Wachdog等组成。目前数字核心的主流为嵌入式微控制器（MCU），即通常所说的单片机。MCU一般以某一微处理器内核为核心，芯片内部集成了RAM、ROM、总线、总线逻辑、定时/计数器、WachDog、I/O、串行口、A/D、D/A等各种必要的功能和外围设备、电路。一般一个系列的单片机具有多种衍生产品，它们的微处理器内核都一样，不同的是存储器和外设的配置及封装。这样可以使单片机zui大限度的和应用相匹配，从而降低成本和功耗。常见的MCU有MCS-51、MCS-196/296、C166/167、68300等等。 随着微电子技术的发展，一些功能更为强大、数字信号处理能力更强的数字核心将成为微机保护装置升级的必然趋势。有代表性的是嵌入式DSP处理器（EDSP）和嵌入式片上系统（ESOC）。