逆反射测量仪是用来测量各种逆反射标志的一起，使其操作起来并不是很困难的，但是如果在不阅读说明书的情况下就进行使用，也会是一头雾水的，下面就来看看该设备在使用时的一些基本操作吧。 1、查询。主界面上面会有点击的按钮，点击之后就可以进入查询界面，然后就可以查看之前测量之后保存的数据，包括需要删除或者保存的数据都是在这里进行操作的。 2、设置。设备的各项数据都是在这里设置这里进行的，比如时间、语音开关等都是在这里进行修改的。 3、数据导出。一般测量结束之后的数据都是记录在存储卡里面的，在按动一下存储卡，存储卡在力的作用下就会弹出，这个时候可以存储卡使用读卡器连接上电脑就可以将保存的数据导出到电脑里面，因为数据存储类型txt格式的所以占用的内存也是比较小的。 4、充电。一般在电量不足20%的时候就需要立刻给设备充电了，，因为如果点亮太低也是会损坏设备电池的，充电器指示灯显示绿色的时候插上主机，等到逆反射测量仪的指示灯显示红色的时候就是处于充电状态，充电完成之后就会显示绿色显示灯。

1、二次元测试仪当工件通过自动抓取和测量功能(自动捕捉点、线、圆、弧等)放入软件主界面时。)，软件只需选择相应的绘图命令，软件智能、准确地自动画线、画圆等。工件实时图像中的图元。这种绘图方法比用肉眼取点更准确、更快捷，并且避免了人为错误。 2、基于智能图像处理的高精度光学辅助聚焦和高度测量功能:具有自动和手动聚焦功能。选择目标区域后，可以自动或手动移动Z轴来搜索清晰的位置。该软件自动捕捉和辨别，将人为错误降低到一个较低的水平。 3、地图功能:人性化的地图导航功能可以帮助您快速定位大型工件上的局部位置，缩短操作所需的搜索时间。打开地图进行虚拟测量或导航。 4、全自动和手动数控测量:数控编程测量分为全自动和手动模式。在全自动数控模式下，当检测到大量工件时，只需对测量过程编程一次，即可自动进行多次全自动重复测量。手动工作台采用手动数控方式，可以实现模拟数控的自动测量功能，提高工作效率。 5、阵列测量:阵列测量可以自动测量同一工件上阵列分布的部分。只有在对阵列分布部分进行编程并设置阵列分布规则后，才能自动测量。 6、绘图比较:打开与实际图像不一致的计算机辅助设计绘图。使用绘图比较中的对齐功能将打开的绘图与图像重叠。使用拉直的图形，可以进行测量或简单的比较。 7、SPCStatistics:内置SPC(统计过程控制)功能，可读取指定的测量数据，生成X-R，Xm-R等测量后的控制图，并计算大值、小值、平均值、标准差、偏差值、Ca、Cp、Cpk等统计系数。